Резцы TIPO для цветных металлов, Резцы

80-200-K TIPO Резцы для цыетных металлов 10 шт. 

За последние несколько лет OES и XRF спектроскопия шагнула далеко вперед, точность определения элементов увеличилась до контроля следовых элементов, и подготовка проб металлов и материалов для спектроскопии становится все более важной. Важно правильно подготовить поверхность образца. Образец должен быть представительным, гомогенным, поверхность должна быть равномерно подготовленной, без каких-либо факторов, влияющих на результаты анализа.

Технические характеристики