Прямой инспекционный микроскоп MX51

Прямой инспекционный микроскоп MX51

Прямой инспекционный микроскоп для контроля электронных компонентов. Данная модель оптимизирована под образцы для микроэлектроники такие, как магнитные головки, полупроводники, печатные платы и т.д. UIS2 оптика позволяет получать высококонтрастные изображения даже сложных для обзора образцов, как, например, LCD-матрицы. Имеется широкий ряд комплектующих для различных задач, в том числе поворотные cтолики, фильтры, осветители, ИК-модули, лазерный модуль автофокусировки и т.д.

Отличительные особенности:

• Общий диапазон увеличений от 12,5х до 1500х
• Большие столы с ходом до 150 мм с вакуумными ручками для удобной навигации, поворотные столики 6”, 8”, 10”, 12”
• Специальная UIS2 оптика для работы с LCD-компонентами
• Интеграция в автоматические системы исследования и загрузки образцов

Комплект поставки

• Прибор
• Инструкция

Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.

Технические характеристики