Микроскоп CIX100

Микроскоп CIX100

Система контроля технической чистоты OLYMPUS CIX100 представляет собой готовое решение, предназначенное для обеспечения и поддержания высокого уровня качества выпускаемой продукции. Микроскоп CIX100 позволяет быстро получать, обрабатывать и документировать результаты контроля технической чистоты, в соответствии с международными стандартами. Система предоставляет пошаговые инструкции в ходе всего рабочего процесса, так что даже неопытные операторы могут быстро и легко получить данные о технической чистоте компонентов. Высококачественные оптика, цифровая камера и специализированное программное обеспечение гарантируют получение высококачественных изображений и точную обработку загрязняющих веществ и частиц примесей от 2,5 мкм до 42 мм. Крупные частицы реконструируются путем соединения всех изображений объекта. Изображение проверенной мембраны фильтра автоматически сохраняется для повторной обработки/повторного расчета. Запатентованный осветитель позволяет различить отражающие и неотражающие частицы за одно сканирование, тем самым сокращая время контроля в 2 раза.

Отличительные особенности:

• Диапазон увеличения от 12,5х до 100х
• Рабочая станция с сенсорным дисплеем
• Пошаговые инструкции на протяжении всего рабочего процесса
• Новая технология одновременного обнаружения отражающих и неотражающих частиц
• Анализ частиц в соответствии с выбранным стандартом
• Эргономичный пользовательский интерфейс
• Отображение результатов в режиме реального времени во время сбора данных
• Создание отчета нажатием одной кнопки

Комплект поставки

• Прибор
• Инструкция

Внимание! Производитель оставляет за собой право изменить комплект поставки.

Технические характеристики