Алматы | +7 (700) 258-08-62 |
Пн–Пт 9:00–18:00 · info@spectrnk.kz
| График работы: | Пн-Пт: | 9:00 - 18:00 |
| Сб-Вс: | Выходной |
|
|
|
|
|
|
Цену уточните у менеджера
Потапов А. И., Сясько В. А., Соломенчук П. В., Ивкин А. Е., Чертов Д. Н.
ТОМ 1: «Электромагнитные и магнитные методы контроля толщины покрытий и стенок изделий»
– СПб: Нестор-История, 2014. – 480 с.
В монографии представлены результаты контроля толщины покрытий и стенок изделий из различных материалов электромагнитными и магнитными методами неразрушающего контроля. Рассмотрены основы теории магнитного и электромагнитного полей; анализ современного состояния электромагнитных методов и приборов контроля толщины покрытий и изделий; теоретическое обоснование электромагнитных методов контроля толщины покрытий и изделий с обеспечением заданной достоверности результатов измерений; методические принципы построения и расчета измерительных преобразователей толщиномеров покрытий и изделий, методы преобразования и обработки измерительной информации; метрологическое обеспечение требуемой достоверности результатов контроля толщины защитных покрытий и изделий электромагнитными методами; экспериментальные исследования методов, многофункциональных приборов и систем мониторинга толщины покрытий и изделий и их практическая реализация.
Издание предназначено для специалистов, преподавателей, аспирантов и студентов, занимающихся проектированием, изготовлением и применением приборов неразрушающего контроля, в том числе электромагнитных толщиномеров для решения научных и производственных задач.